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產品展示
  • WYJ-4XDIC科研級微分干涉顯微鏡

    科研級微分干涉顯微鏡WYJ-4XDIC適用于金相、礦相、晶體、硅片、電路基板、FPD等結構分析和研究,或用于TFT液晶顯示屏導電粒子分析研究。是金屬學、礦物學、精密工程學、電子學、半導體工業、硅片制造業、電子信息產業等觀察研究的理想儀器??偡糯蟊稊担?0-800X

    型號:WYJ-4XDIC
    更新日期:2021-08-15
    面議
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